八十年代初我國發(fā)布實(shí)施的環(huán)境試驗方法標準一覽表

（合計22項標準，包括總則和名詞術(shù)語(yǔ)）

GB2421—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　總則

GB2422—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　名詞術(shù)語(yǔ)

GB2423.1—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗A：低溫試驗方法

GB2423.2—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗B：高溫試驗方法

GB2423.3—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Ca：恒定濕熱試驗方法

GB2423.4—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Db：交變濕熱試驗方法

GB2423.5—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Ea：沖擊試驗方法

GB2423.6—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Eb：碰撞試驗方法

GB2423.7—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Ec：傾跌與翻倒試驗方法

GB2423.8—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Ed：自由跌落試驗方法

GB2423.10—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Fc：振動(dòng)（正弦）試驗方法

GB2423.15—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Ga：恒加速度試驗方法

GB2423.16—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗J：長(cháng)霉試驗方法

GB2423.17—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Ka：鹽霧試驗方法

GB2423.19—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗方法

GB2423.20—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗方法

GB2423.21—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗M：低氣壓試驗方法

GB2423.22—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗N：溫度變化試驗方法

GB2423.24—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射試驗方法

GB2423.25—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法

GB2423.26—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法

GB2423.27—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程　試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法

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